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    基于CMOS平板探测器的X-Ray全自动盘料点数机应用

    2017-11-07 14:03:05  来源：
    基于CMOS平板探测器的X-Ray全自动盘料点数机应用
    • 基于X-Ray的盘料点数机和传统点料机区别
    传统的点料方法：
     
    1. 全自动盘料点数机原理：
    传统的盘装电子物料点数方法是将料盘上封装的物料一端拉出，连接到带有收料盘的装置上，经过不同方式的传感器，通过对封装物料相邻间差异的识别实现物料个体封装的识别和计数，从而实现物料点数工作。
     
    1. 局限性：
    （1）此种方式点数周期长，若提高收料装置的牵引速度，可以一定程度上提高效率，但对物料包装的要求较高，以确保料带能够承受较大的拉力，物料的包装成本需要提高，所以由于牵引速度的限制，制约了点料速度的提高；
    （2）若封装空间里没有物料，此种方法会出现误判，从而影响点数精确度。
     
     
    X-Ray点料方法：
    利用X光大角度透视的原理，得到盘料的X-Ray图像，通过软件分析，得到计数结果，相比传统的点料方式，大大的提高了工作效率，节约人工成本。
      原理示意图
     
    物料料盘

    X射线图像和软件分析结果
    • 我司可以提供的产品
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