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OLED/QLED 发光器件寿命测试系统
详细信息| 询价留言品牌：TEO 型号：OLED/QLED 加工定制：是 类型：参考说明 测量范围：参考说明书 分辨率：参考说明书 取样率：参考技术参数 精确度：参考说明书 解析度：参考技术参数 电源：参考技术参数 尺寸：参考说明书 mm 解析度：参考技术参数 OLED/QLED 发光器件寿命测试系统32 路系统 64 路系统
项目 关键指标 备注 通道数量 32、64、128 可扩展到512 路 测量模式1 恒流、恒压、恒亮度 需根据客户需求选定 测量模式2 Pulse 电压、Pulse 电流 选配 电流输出 0.03uA~100mA，精度优于±1% 用户参照核心技术电流源选配 电压输出
饱和亮度1.0~20V，精度<±1% 通常10000cd/m2 以上 标配
可根据客户需求定制器件结构 底发光、顶发光、倒装、正装 需根据用户需求定制 测试盒/ 夹具 测试基片尺寸 5cm×5cm 可定制支持20cm×20cm 高温测试 RT+10 度~100 度；-50 度~100 度；环境测试 选配 特殊条件 特殊气氛测试；手套箱测试；UPS 电源等 选配、定制 软件平台 LabView 稳定、高效 -
