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多片式IVL测试系统OLED
详细信息| 询价留言品牌：TEO 型号：OLED 加工定制：是 类型：参考说明 测量范围：参考说明书 分辨率：参考说明书 取样率：参考技术参数 精确度：参考说明书 解析度：参考技术参数 电源：参考技术参数 尺寸：参考说明书 mm 解析度：参考技术参数 系统说明：OLED多片式IVL测试系统应用于大批量测试IVL 性能曲线以及在视角变化过程中亮度的变化。主要面向OLED 材料制作和OLED 屏体的生产厂商。
一、系统原理
二、系统特点
· 灵活多片式
· 大视角测量
· CCD 自动对位系统
· 系统高度集成
· 温度控制单元（选配）
三、设备系统实物展示
四、测试项目
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